覆层测厚仪跟涂层测厚仪相比较有什么优势

 涂层测厚仪是新开发的产品。与以往的涂层测厚仪相比，主要有以下优点：
   1、测量速度快：测量速度比其他TT系列快6倍；
   2、精度高：产品经过简单校准，精度可达1-2%。是市场上可以达到*的产品，精度远高于时代等国内同类产品
  3、稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；
   4、功能、数据、操作、显示均为中文；
  由材料表面保护和装饰，如涂层、电镀、覆层、粘贴、化学成膜等形成的覆盖层，在相关国家和国际标准中称为涂层。涂层测厚已成为加工业和表面工程质量检验的重要组成部分，是产品达到优良质量标准的手段。为使产品国际化，我国出口商品及涉外项目对涂层厚度有明确要求。
  涂层厚度的测量方法主要有：楔形切割法、截光法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量法方法等。这些方法中的前五种是破坏性测试。测量方法繁琐、速度慢，多适用于抽样检验。
   X射线和β射线法是非接触、无损测量，但设备复杂、价格昂贵，测量范围小。由于存在放射源，用户必须遵守辐射防护规定。 X射线法可以测量极薄的镀层、双层镀层和合金镀层。 β射线法适用于原子序数大于3的涂层和基材的测量。电容法仅用于测量细导体绝缘涂层的厚度。